近場光源光學特性測定
 
■ 測定波長範圍：可見光、紅外光。
 
■ 可見光：輝度均勻性、色度均勻性。
   紅外光：能量均勻性。
 
■ 晶片、封裝後等發光光源。
 
※ 備有詳細規格，歡迎來電或來信索取。